美國(guó)APT開爾文探針簡(jiǎn)介：

   開爾文探針是一種基于振動(dòng)電容的非接觸無(wú)損氣相環(huán)境金屬表面電位的測(cè)量技術(shù)，用于測(cè)量材料的功函數(shù)(Work Function)或表面勢(shì)(Surface Potential)。它可以用于檢測(cè)氣相環(huán)境中因溫度、濕度、表面的化學(xué)、電學(xué)、力學(xué)、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢(shì)的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學(xué)分析技術(shù)，是只有能夠測(cè)定氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的方法。

美國(guó)APT開爾文探針電學(xué)特點(diǎn)：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測(cè)試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注：

APT開爾文探針適用于四線法測(cè)試 ，以減小線阻和接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響 ，保證小電阻的測(cè)試準(zhǔn)確性。

另外 ，一些高頻測(cè)試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個(gè)。

D.   GGB 12C有源探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ，可以同時(shí)支持兩個(gè)探頭使用  ( PS-2)

常用Model 40A系列

產(chǎn)品特點(diǎn)：

( 1)   測(cè)試頻率范圍：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um可選  (腳間距越大  ，    損耗越嚴(yán)重)

( 5)   測(cè)試重復(fù)性優(yōu)于-80db

( 6)   單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)設(shè)計(jì)

( 7)   材質(zhì)：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設(shè)計(jì)